Ketahanan lembaran material memiliki resistivitas material yang terbagi dengan ketebalannya melalui kontak tipis material semikonduktor. Hal ini dapat Anda temukan dalam pengukuran four point probe.
Four point probe memiliki ujung bulat untuk melakukan kontak dengan rasio 0,24 mm. Kelebihan ini membuat probe luas permukaan lebih besar daripada jarum.
Dalam artikel ini akan membahas terkait four point probe serta penggunaannya dalam penelitian. Simak pembahasan berikut ini.
Apa itu Four Point Probe?
Four point probe merupakan alat yang umum digunakan untuk mengukur resistensi lembaran material.
Resistansi lembaran merupakan resistivitas material yang dibagi dengan ketebalannya, dan mewakili resistensi lateral melalui kontak tipis material semikonduktor.
Pengukuran four point probe disusun dalam satu garis, dengan jarak yang sama tiap probe. Dua probe bagian luar dialirkan arus yang menyebabkan penurunan tegangan antara dua probe di bagian dalam. Dengan mengukur perubahan tegangan, resistansi lembaran dapat dihitung menggunakan four point probe.
Komponen Four Point Probe
Probe memiliki ujung membulat untuk melakukan kontak. Dengan radius 0,24 mm dan memberi probe luas permukaan kontak lebih besar daripada jarum, sehingga menyebarkan garis ke bawah yang sudah diterapkan pada sampel.
Probe jenis ini memiliki lapisan emas dan dipasang pada pegas untuk mendorong kontak listrik tanpa gaya berlebih karena kepala probe dapat masuk kembali ketika melakukan kontak dengan sampel pengujian.
Spesifikasi Perangkat Fisik Four Point Probe
Jarak probe : 1,27 mm (0.05")
Ukuran sampel persegi panjang : 5 mm (0,20")
Minimal tepi panjang : 60 mm (2,36")
Maksimum tepian pendek : 60 mm (2,36")
Diameter ukuran sampel melingkar : 5 mm sampai 76,2 mm (0,20" x 3,00")
Ketebalan sampel : 10 mm (0,39")
Dimensi : 145 mm x 150 mm x 240 mm (5,71" x 5,91" x 9,45")
Kelebihan Four Point Probe
Four point probe lebih diminati karena resistensi kontak dan penyebaran nya sangat rendah dengan probe tegangan dan akurasi pengukurannya sangat tinggi, sehingga sangat cocok untuk mengukur nilai resistansi yang rendah.
Dalam kasus ini, sangat sedikit resistansi kontak yang berkaitan dengan probe tegangan. Mengukur resistivitas dengan four point probe dapat menghilangkan kesalahan akibat resistansi probe.
Aplikasi Four Point Probe
Four Point Probe punya resistensi sheet yang merupakan properti dari material yang digunakan untuk pengembangan film tipis seperti solar cell perovskite atau LED organik.
Resistivitas merupakan properti listrik untuk mengukur ketahanan lembaran film tipis dengan ketebalan yang ditekatuh. Hal ini menjadikan pengukuran four point probe menjadi kunci untuk karakterisasi listrik bahan.
Penggrangkat film tipis butuh elektroda konduktif nipis untuk mengangkut muatan listrik secara lateral untuk diekstraksi agar mengurangi potensi kerugian. Ini sangat penting karena muatan listrik harus bergerak lebih jauh di sepanjang elektroda sebelum diekstraksi.
Cara Menggunakan Four Point Probe
Ossilla Sheet Resistance Lite merupakan software untuk melakukan pengamatan probe. Untuk itu, penggunaan four point probe dapat mengikuti langkah-langkah berikut ini:
Instal software dan driver pada USB drive yang disediakan.
Hubungkan sistem ke sumber daya listrik.
Biarkan sistem running selama 30 menit sebelum melakukan pengukuran.
Koneksikan sistem ke komputer Anda
Tempatkan sampel di atas panggung, berpusat di bawah probe.
Untuk sampel persegi panjang, sejajarkan tepi panjang dengan garis probe.
Gunakan mikrometer untuk menaikkan sampel hingga bersentuhan dengan probe.
Untuk memastikan kontak ohm yang baik antara sampel dan probe, lakukan paling sedikit satu putaran penuh mikrometer setelah probe pertama kali melakukan kontak dengan sampel.
Jalankan software Ossila Sheet Resistance Lite.
Tetapkan geometri sampel dalam perangkat lunak.
Klik pada tombol.
Program ini akan menghitung faktor koreksi geometrik yang sesuai untuk sampel.
Setelah arus stabil tercapai, arus antara probe bagian luar dan tegangan antara probe bagian dalam diukur dan digunakan untuk menghitung resistansi lembaran.
Sistem penerapan arus di antara probe luar, dimulai dari kisaran arus tertinggi dan berlanjut ke bawah hingga arus stabil tercapai.
Resistensi lembaran muncul dalam program.
Jika ketebalan sampel diketahui, resistivitas dan konduktivitas juga akan dihitung dan ditampilkan.
Pengukuran dilanjutkan sampai tombol off di klik.
Data dapat disimpan kapan saja selama pengukuran berjalan dengan mengklik ikon simpan.
Dapatkan Four Point Probe Berkualitas di AMI Scientific!
Four point probe merupakan alat untuk mengukur tahanan lembaran material. Alat ini sangat diminati karena resistensi kontak dan penyebaran nya sangat rendah dengan probe tegangan dan akurasi pengukurannya sangat tinggi.
Mengukur resistivitas dengan four point probe dapat menghilangkan kesalahan akibat resistansi probe.
Yuk dapatkan Four Point Probe berkualitas dengan mengklik tautan ini!
Commentaires